масс-спектрометр на вторичных ионах

 

масс-спектрометр на вторичных ионах
(для исследования поверхностей материалов)
[А.С.Гольдберг. Англо-русский энергетический словарь. 2006 г.]

Тематики

• энергетика в целом

EN

• secondary ion mass spectrometer
• SIMS