- масс-спектрометр на вторичных ионах
-
масс-спектрометр на вторичных ионах
(для исследования поверхностей материалов)
[А.С.Гольдберг. Англо-русский энергетический словарь. 2006 г.]Тематики
- энергетика в целом
EN
- secondary ion mass spectrometer
- SIMS
Справочник технического переводчика. – Интент. 2009-2013.